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| La duda es la madre del descubrimiento Ambroise Bierce(1842-1914). Periodista y escritor estadounidense. |
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| Técnica microscópica para ver tiempo real y simultáneamente cambios celulares | |||||
Un equipo del CSIC ha perfeccionado una técnica microscópica que permite observar en tiempo real y de manera simultánea cualquier cambio de forma o composición que se produzca en células, moléculas biológicas, circuitos nanoelectrónicos u otros objetos a escala nanométrica. La nueva técnica, denominada Phase Imaging AFM, ofrece posibles aplicaciones en áreas como la biomedicina, la nanotecnología, la ciencia de materiales o estudios medioambientales, según los responsables de este trabajo, del que se informa en el último número de la revista "Nature Materials". La misma se basa en la microscopía de fuerzas y permite realizar medidas tanto en aire como en medios líquidos o fisiológicos. Según el coordinador del estudio, Ricardo García, que trabaja en el Instituto de Microelectrónica de Madrid (CSIC), "ahora podemos ver en detalle cómo interaccionan un antígeno y un anticuerpo; en un futuro, con el avance de esta técnica, se podrá ver paso a paso cómo interacciona un medicamento con una célula enferma". Otros posibles usos de la nueva técnica serían el seguimiento muy de cerca de la creación de un nuevo material o la detección de contaminantes. La sensibilidad de esta nueva técnica permite detectar variaciones de energía que se corresponden con décimas y centésimas de las energías de enlace entre átomos, alcanzando así una resolución nanométrica y molecular. La técnica permite observar la superficie de materiales heterogéneos y aportar datos sobre alguna de sus propiedades; además de mostrar y procesar, por primera vez de forma independiente, datos sobre la topografía y la composición del objeto. La técnica Phase Imaging AFM ha sido perfeccionada en el marco del proyecto europeo FORCETOOL coordinado por el investigador del CSIC. El objetivo de este proyecto es desarrollar un método de microscopía capaz de funcionar en un entorno tecnológico y que ofrezca una resolución espacial de un nanómetro. EFE | |||||
Lunes, 04 Junio, 2007 - 02:09 | |||||
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