(NC&T)Esta nueva técnica, desarrollada por científicos del Laboratorio Nacional de Argonne en colaboración con la compañía Xradia, llevará a una mejor comprensión de las reacciones de las interfaces en las superficies, como la adsorción de iones, la corrosión, y las reacciones catalizadoras. Este método, en particular, extiende la capacidad de la microscopía por rayos X para observar de modo directo y en tiempo real las características subnanométricas que presentan las interfaces. Este enfoque no invasivo complementa las técnicas de microscopía ampliamente utilizadas que se valen de sondas, y puede obtener imágenes de la topografía de una superficie sólida sin usar la punta de una sonda próxima a la superficie.

Los investigadores del Laboratorio Nacional de Argonne junto con los de Xradia, una firma especializada en sistemas ópticos para rayos X, incluyendo microscopios, han logrado la sensibilidad necesaria para observar características de dimensiones subnanométricas utilizando para ello un fenómeno conocido como contraste de fase. Este descubrimiento hace posible observar de manera directa, por pasos individuales, una superficie sólida, adaptando una técnica usada previamente en la microscopía electrónica.

(Imagen de una superficie mediante el nuevo microscopio.) (Foto: ANL) La capacidad de ver los rasgos individuales a escala nanométrica es un logro científico importante para la microscopía por rayos X. Conocer bien la reactividad de las interfaces es vital para muchas áreas de la ciencia y la tecnología, desde la corrosión de metales al transporte de los contaminantes en el medio ambiente. Esta técnica abre la posibilidad de observar estos procesos directamente y dará nuevas oportunidades para su comprensión. Estamos antes un adelanto significativo que nos acerca un paso más a la meta de desvelar los entresijos de la reactividad de las superficies sólidas. Los estudios futuros extenderán estas mediciones a la observación en tiempo real de procesos sobre superficies minerales en contacto con el agua. Emplear un nuevo equipamiento de microscopía de rayos X desarrollado por Xradia, y las mediciones realizadas en el Laboratorio Nacional de Argonne, fueron ingredientes decisivos para lograr el éxito.